　　石英晶體常見問題系列三之解決因輸出波形幅度過小而引起的異常.
　　上一期咱們聊到晶振產(chǎn)品無信號輸出的情況,也對這一情況進(jìn)行詳細(xì)分析,并給出了解決方法;除此之外在使用過程中可能還會遇到因為輸出波形幅度過小而引起系統(tǒng)無法工作的異常情況,對于這種情況我們也有針對性的解決辦法.
　　當(dāng)遇到這種情況的時候請不要驚慌,可能是由于某些不正當(dāng)?shù)沫h(huán)境條件或者是參數(shù)設(shè)計無法滿足要求所致,并非是晶振產(chǎn)品損毀;所以遇到這種情況不要驚慌,請使用示波器或頻率計數(shù)器測量來自晶體兩個端子的信號.看看是否有無輸出信號,如果沒有輸出型號的話,我們可以依照上一期晶體無信號輸出的方法進(jìn)行檢測解決.但是如果頻率不在規(guī)格范圍內(nèi),并且其輸出波形幅度不足,那么請按照如下步驟進(jìn)行解決.

　　如果即使頻率非常接近目標(biāo)頻率也沒有改善波形幅度,則??可以使用以下三種方法來改善它:
　　1)降低外部電容(Cd和Cg)的值,并采用具有較低負(fù)載電容(CL)的晶體.
　　2)采用低電阻(Rr)的晶體.
　　3)使用Cd和Cg值不相等的設(shè)計.
　　所以我們可以增加Cd(Xout)的負(fù)載電容,并減小Cg(Xin)的負(fù)載電容,以提高來自Xin的波形幅度輸出,該信號將在其后端電路中使用.在我們多次試驗中,上述方法應(yīng)該是非常棒的,最重要的是方法能夠節(jié)省成本并且確保安全性,建議采用這種方法.
　　當(dāng)然在經(jīng)過上述調(diào)整之后,頻率并不一定是在規(guī)定的范圍內(nèi)所以我們需要確認(rèn),這時請使用頻率計數(shù)器測量晶體,以確保在提高波形幅度后,調(diào)整后的頻率仍符合原始規(guī)格.如果頻率不符合規(guī)格,請根據(jù)您的目標(biāo)頻率選擇具有合適CL值的貼片晶振.那么應(yīng)該如何進(jìn)行調(diào)整呢?
　　如果測試出來的頻率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于目標(biāo)頻率,那么對于這種情況,我們就需要選擇CL較低的晶振了,反過來也是一樣的道理.
　　其實上述解決方法都有一定依據(jù)的,下面看看電容與頻率的公式如下:

　　根據(jù)上述公式我們可以得到下面的頻率隨電容變化的曲線圖(頻率可拉性):

　　從圖中可以看出頻率和電容存在著很明顯的反比關(guān)系,也就是說當(dāng)負(fù)載變小時頻率變化在增大;當(dāng)負(fù)載增大時,頻率變化的幅度也在降低;這樣我們就可以總結(jié)出一系列的解決辦法,也就是如果頻率計數(shù)器測量的頻率高于目標(biāo)頻率,則應(yīng)增加電容值(CL或Cd和Cg)以降低頻率轉(zhuǎn)換為目標(biāo)頻率,反之亦然.
　　調(diào)整頻率后,請檢查波形幅度是否有所改善.如果得到改善,則說明電路的原始設(shè)計沒有調(diào)整到石英晶振的最佳諧振點.調(diào)整諧振點后,晶體應(yīng)能正常工作.
　　好啦,關(guān)于晶體常見問題方面的討論咱們就到此為止了,其實還有很多的現(xiàn)象或者異常情況,這個我們也不可能也做不到面面俱到,總之我們一直在前進(jìn)中,如果遇到棘手的這方面的問題,可以聯(lián)系我們共同討論學(xué)習(xí)進(jìn)步.
　　石英晶體常見問題系列三之解決因輸出波形幅度過小而引起的異常.

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