寬溫范圍的時鐘計時需求正在不斷增加，其應用涉及電表、工業(yè)、通信等帶有部分嵌入式付費系統(tǒng)的設備、全球衛(wèi)星導航接收機及其他行業(yè)應用。準確計時取決于幾個重要參數(shù)，當然其他參數(shù)也會影響時間計時精度。內(nèi)置一顆高精度的32.768K晶振,晶振的精度越高，其計時越為準確，初始精度主要受晶振質(zhì)量的影響，通常精度越高價格也越貴，比較經(jīng)濟的方法是根據(jù)具體的設計對晶振的初始頻率進行簡單補償。通常需要測量振蕩器的實際頻率，計算出校準值。對于高端產(chǎn)品時鐘計時器通常用到溫補晶振,實時時鐘采用的音叉振蕩器在室溫下精度的典型值為±20×10-6，頻率測量的分辨率直接影響了時鐘精度的提高，但要獲得頻率的高分辨率測量需要大量的累計計數(shù)或以極高的精度測量脈沖周期。補償初始精度的主要困難在于獲得足夠高的振蕩頻率測量分辨率。

提高精度的另一途徑是溫補振蕩器的長期穩(wěn)定度，要求振蕩器在其使用期限內(nèi)重復測量并進行校準，這種條件在某些場合是可以接受的，但有些應用則無法采納或不便操作。對于不能進行讀寫操作、獨立工作的設備，如電表，設計人員必須提高振蕩器精度或改變系統(tǒng)結構，以便對其進行讀/寫操作和調(diào)節(jié)，但是，無論哪種方案都會提高系統(tǒng)成本。頻率的長期穩(wěn)定性主要受石英晶體諧振器老化的影響，補償這種影響的唯一方法是測量頻率并根據(jù)測量結果進行頻率校準或調(diào)理。因為晶體老化的程度隨著時間而減弱，影響較大的時期一般在設備運行后的前兩年。晶體工作在高溫環(huán)境時會加速老化。晶體安裝在芯片封裝內(nèi)時，回流焊過程中受高溫影響，會使老化發(fā)生一次躍變。但在安裝之后，系統(tǒng)的老化程度會大大減緩。將晶體封裝在RTC芯片內(nèi)，相對于其他外置晶體的RTC具有更好的老化特性。

時鐘走時不準的原因主要受溫度影響。當晶振工作在溫度變化較大的環(huán)境中，頻率隨溫度的變化將成為影響計時精度的主要因素溫度的不穩(wěn)定和相應的溫度系數(shù)是許多應用所面臨的問題，特別是那些工作在寬溫范圍的應用，如室外電表或水表。標準的用作RTC時基的32.768kHz音叉晶體的頻率響應與溫度之間的關系為Δf/f=k(T-T0)2+f0。其中，Δf為頻率偏差，f為基頻，k為曲率，T為溫度，T0為折點溫度，f0為折點溫度處的頻偏。